1min工頻耐壓試驗(yàn)

開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該承受短時(shí)工頻耐受電壓試驗(yàn)，對(duì)每一試驗(yàn)條件，應(yīng)該把試驗(yàn)電壓升高到試驗(yàn)值維持1min。

應(yīng)該進(jìn)行干試驗(yàn)，對(duì)戶外開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備還應(yīng)進(jìn)行濕試。

隔離斷口可以按下述方法進(jìn)行試驗(yàn)：

優(yōu)選方法：這時(shí)加在兩側(cè)端子上的兩個(gè)電壓都不低于相對(duì)地耐受電壓的三分之一；

替代方法：對(duì)額定電壓低于 72.5kV的金屬封閉氣體絕緣開關(guān)裝置和任一電壓的普通開關(guān)裝置底架的對(duì)地電壓不需要準(zhǔn)確的調(diào)整，甚至可以把底架絕緣。

雷電沖擊耐壓試驗(yàn)

開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備只應(yīng)該在干燥狀態(tài)下承受雷電沖擊試驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)雷電沖擊波標(biāo)準(zhǔn)雷電沖擊電壓是指波前時(shí)間7為1.2us,半波峰值時(shí)間 7為50us 的光滑的雷電沖擊全波。表示為1.2/50us 沖擊。

以下偏差為雷電沖擊波標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定與實(shí)際記錄值之間的允許偏差：

峰值士3%

波前時(shí)間士30%

半峰波值士20%

對(duì)試品施加15次具有規(guī)定波形和極性的耐受電壓，如果在自恢復(fù)絕緣上發(fā)生不超過2次破壞性放電，且按有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定的檢測(cè)方法確定非自恢復(fù)絕緣上無損傷，則認(rèn)為通過試驗(yàn)。除非有關(guān)委員會(huì)另有規(guī)定，試驗(yàn)程序應(yīng)按如下進(jìn)行：

沖擊次數(shù)至少15次;

在非自恢復(fù)絕緣上不應(yīng)出現(xiàn)非破壞性放電；如不能證實(shí)，可通過最后一次破壞性放電后連續(xù)施加3次沖擊耐受來確認(rèn)；

破壞性放電的次數(shù)不應(yīng)超過2次(此次數(shù)是指從第1次施加沖擊到最后1次施加沖擊的合計(jì)破壞性放電次數(shù)，且僅發(fā)生在自恢復(fù)絕緣上；

但后5次沖擊中出現(xiàn)的破壞性放電不得超過1次。如果后5次沖擊中出現(xiàn)1次破壞性放電，則應(yīng)增加5次附加的沖擊試驗(yàn)來驗(yàn)證，該附加的試驗(yàn)中不應(yīng)出現(xiàn)破壞性放電。

操作沖擊耐壓試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)操作沖擊是到峰值時(shí)間 T為 250us,半峰波值時(shí)間 72為 2500us 的沖擊電壓，表示為250/2500us沖擊。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)和特殊操作沖擊，規(guī)定值和實(shí)測(cè)值之間允許下列偏差：

峰值士3%

波前時(shí)間士20%

半峰波值士60%

人工污穢試驗(yàn)

凝露試驗(yàn)

DL/T539-1993 戶內(nèi)交流高壓開關(guān)柜和部件凝露及污穢試驗(yàn)技術(shù)條件

局部放電測(cè)試

引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T7354-2003局部放電測(cè)量

1、導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電。這種放電可以在導(dǎo)體間發(fā)生也可以不在導(dǎo)體間發(fā)生。

注:
局放一般是由絕緣體導(dǎo)體內(nèi)部和絕緣表面局部電場(chǎng)特別集中而引起的，通常這種放電表現(xiàn)為持續(xù)時(shí)間小于 1us的脈沖。但是也可能出現(xiàn)連續(xù)的形式，比如氣體介質(zhì)中的所謂無脈沖放電，通常用本標(biāo)準(zhǔn)中的方法檢測(cè)不到這類放電。

電暈是局放的一種方式，它常發(fā)生在遠(yuǎn)離固體和液體絕緣的導(dǎo)體周圍的氣體介質(zhì)中,“電暈”不宜被用作且有局放形式的通用術(shù)語。

局放通常伴隨著聲、光、熱和化學(xué)反應(yīng)等現(xiàn)象。

校準(zhǔn)

校準(zhǔn)程序

完整試驗(yàn)回路中測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)是用確定視在電荷測(cè)量的刻度因數(shù)k，因?yàn)樵嚻冯娙輆會(huì)影響回路的特性一，因此，要對(duì)每一個(gè)新的試品分別進(jìn)行校準(zhǔn)，除非試驗(yàn)中一系列類似的試品的電容值都在平均值的士10%以內(nèi)。

完整試驗(yàn)回路中測(cè)量系統(tǒng)的校準(zhǔn)是在試品的兩端注入已知電荷量q0的短時(shí)電流脈沖。q0值由校準(zhǔn)器性能試驗(yàn)的結(jié)果取得。

電流脈沖一般由校準(zhǔn)器產(chǎn)生,該校準(zhǔn)器由能產(chǎn)生幅值為Uo的階躍電壓脈沖發(fā)生器和電容 Co聯(lián)構(gòu)成,因此，校準(zhǔn)脈沖提供電荷，其電荷值為
q0= U0C0。
校準(zhǔn)器的性能試驗(yàn)局放測(cè)量的準(zhǔn)確度要靠校準(zhǔn)器的準(zhǔn)確度來保障，因此，校準(zhǔn)器的第一次性能試驗(yàn)宜溯源到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)以便認(rèn)可。應(yīng)進(jìn)行以下性能試驗(yàn):

校準(zhǔn)器的所有標(biāo)稱量程下的實(shí)際電荷 q0的確定，其不確定度宜保持在其標(biāo)稱值的土5%或者±1%pC內(nèi)，取兩者中大的一個(gè)，這些q0值是使用校準(zhǔn)器時(shí)可能用到的電荷的實(shí)際值。

階躍電壓 Uo上升時(shí)間t的確定，其不確定度為士10%。

用脈沖計(jì)數(shù)器確定脈沖重復(fù)頻率N，其不確定度為士1%。這一要求僅適用于脈沖重復(fù)率n的計(jì)數(shù)校準(zhǔn)。

對(duì)試品的要求試驗(yàn)之前，試品宜按照有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定的程序進(jìn)行預(yù)處理，如果沒有則：

試品外絕緣的表面必須是清潔干燥的，因?yàn)榻^緣表面的污穢和受潮會(huì)產(chǎn)生局部放電；

試品試驗(yàn)時(shí)宜處于與此環(huán)境溫度；

在試驗(yàn)之前剛剛接受過機(jī)械、熱和電氣的作用會(huì)影響試驗(yàn)的結(jié)果，為了保護(hù)良好的可重復(fù)性，在受作用之后至局放試驗(yàn)之間，允許停放一段時(shí)間。

控制回路的1min工頻耐壓試驗(yàn)

操動(dòng)機(jī)構(gòu)的二次回路及元件應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn)電壓2kV、持續(xù)時(shí)間1min 的工頻耐壓試驗(yàn);或試驗(yàn)電壓為 2.5kV、持續(xù)時(shí)間1s 的試驗(yàn)電壓。