微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀df/dt閉鎖。

  df/dt測(cè)試范圍

  測(cè)試“df/dt閉鎖值”時(shí)，在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測(cè)試，每次測(cè)試時(shí)都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)至保護(hù)動(dòng)作，則測(cè)出此時(shí)的df/dt閉鎖的邊界值。
  因?yàn)楸Ｗo(hù)在大于整定的df/dt值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測(cè)試保護(hù)從不動(dòng)作到動(dòng)作，測(cè)出保護(hù)的df/dt閉鎖值。

  頻率變化范圍

  每輪試驗(yàn)頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因?yàn)橐话阊b置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會(huì)被閉鎖不出口。

  注意：做該試驗(yàn)時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。