現(xiàn)場讀數(shù)/瞬時(shí)電阻測試

在短時(shí)間的測試中，兆歐表直接與測試設(shè)備連接。外加測試電壓60秒左右。為了在1分鐘左右得到一個(gè)穩(wěn)定的電阻值讀數(shù)，測試應(yīng)只在低電容設(shè)備上進(jìn)行。連接步驟和安裝測試的連接步驟是一樣的。用直流電壓測試公式計(jì)算外加電壓。當(dāng)測試良好設(shè)備時(shí)，由于電容和吸收電流的增加，應(yīng)注意絕緣電阻會有明顯增加。

由于溫度和濕度會影響讀數(shù)，測試最好在露點(diǎn)溫度以上的標(biāo)準(zhǔn)溫度20°C左右下進(jìn)行。對于額定電壓是1000V或低于1000V的設(shè)備，絕緣讀數(shù)應(yīng)是1MΩ或更大。對于額定電壓在1000V以上的設(shè)備，電阻應(yīng)每外加1000V電壓就增加到1.兆歐。通常，絕緣電阻應(yīng)稍微低于以前的記錄。由于在使用中電阻逐漸減小。

步進(jìn)電壓測試

步進(jìn)電壓測試是測試在不同電壓下的電阻值。在每次測試中，外加同樣長時(shí)間電壓，通常都是60秒鐘左右。查看記錄的絕緣電阻值，通過逐步增加電壓，絕緣材料會暴露出電阻故障點(diǎn)如：小孔，損壞，或易斷的地方。絕緣良好的設(shè)備應(yīng)能夠承受過壓應(yīng)力。在不同電壓下測試，電阻值應(yīng)基本上一樣。

另一方面，特別在高壓下，老化，有裂縫或污染的絕緣材料會出現(xiàn)電流的增加，造成絕緣電阻的降低。測試與絕緣材料，設(shè)備電容和溫度影響無關(guān)。因?yàn)闇y試用時(shí)間較長，這種測試是在點(diǎn)絕緣電阻測試不能確定的情況下進(jìn)行的。點(diǎn)電阻測試是測試隨時(shí)間推移電阻的變化(單一讀數(shù))，步進(jìn)電阻測試是測試絕緣電阻隨電壓的變化而變化的趨勢。

電介質(zhì)吸收和時(shí)間電阻測試

時(shí)間電阻測試與設(shè)備大小，溫度無關(guān)。它是把劣化的絕緣材料的吸收特性與良好絕緣材料的吸收特性進(jìn)行對比。外加測試電壓要超過10分鐘。在測試的第1分鐘內(nèi)每10秒鐘記錄一次數(shù)據(jù)，以后，每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)。繪出的曲線圖可以判定絕緣狀況。圖上電阻連續(xù)增加說明絕緣狀況良好。一個(gè)平的或向下的曲線說明有裂縫或污物或絕緣劣化。

測定電阻狀況的另一種方法是極化率測試。這種方法對于發(fā)現(xiàn)使曲線展平的水汽或油浸入非常有用。水汽或油浸入會引起泄露電壓，最終使線圈短路。極化率是2個(gè)時(shí)間電阻的比率。一個(gè)在1分鐘之后出現(xiàn)，另一個(gè)在10分鐘之后出現(xiàn)。

如果絕緣良好，絕緣電阻將開始減小，隨電容泄漏電流和吸收電流減少而電阻變大。用10分鐘的測試值除以1分鐘的測試值就得出測試結(jié)果。極化率低說明電阻有故障。在測試時(shí)，短路極化率在1秒鐘之內(nèi)的電介質(zhì)吸收率是(60/30)。